電子元器件壽命試驗(yàn)簡(jiǎn)介

                               電子元器件壽命試驗(yàn)簡(jiǎn)介
壽命試驗(yàn)是評(píng)價(jià)、分析產(chǎn)品壽命特征的試驗(yàn)，它是在實(shí)驗(yàn)室條件下，摸擬實(shí)際工作狀 態(tài)或儲(chǔ)存狀態(tài)，投人一定樣品進(jìn)行試驗(yàn)，試驗(yàn)中記錄樣品失效的時(shí)間，并對(duì)這些失效時(shí)間 進(jìn)行統(tǒng)計(jì)、分析，以評(píng)估產(chǎn)品的可靠性數(shù)量特征(如可靠度、失效串、平均壽命等），作為可 靠性預(yù)測(cè)、可靠性設(shè)計(jì)、制定篩選條件、制定例行試驗(yàn)的規(guī)范和改進(jìn)產(chǎn)品質(zhì)量的依據(jù)。
因?yàn)閴勖囼?yàn)的目的是考核產(chǎn)品在規(guī)定的條件下，在全過(guò)程工作時(shí)間內(nèi)的質(zhì)量和可 靠性，所以，為了使試驗(yàn)結(jié)果有較好的代表性，參試的樣品要有足夠的數(shù)量。如按 GJB548《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》的《鑒定和質(zhì)量一致性檢驗(yàn)程序》，采用批容許不合 格百分率(LTPD，Lot Tolerance Percent Defective)等于 5 的抽樣方案。
壽命試驗(yàn)可根據(jù)不同的分類(lèi)方法進(jìn)行不同的分類(lèi):如以施加應(yīng)力大小區(qū)分,可分為長(zhǎng) 期壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn);如以受試樣品所處狀態(tài)區(qū)分,又可分為儲(chǔ)存壽命試驗(yàn)和工作 壽命試驗(yàn)兩大類(lèi);如從數(shù)據(jù)處理角度出發(fā)，又可劃分為定時(shí)截尾試驗(yàn)、定數(shù)截尾試驗(yàn)、有替 換試驗(yàn)、無(wú)替換試驗(yàn)等類(lèi)型。
不同電子元器件可有不同的壽命試驗(yàn)。如微電路的壽命試驗(yàn)分穩(wěn)態(tài)壽命試驗(yàn)、間歇 壽命試驗(yàn)和模擬壽命試驗(yàn)。穩(wěn)態(tài)壽命試驗(yàn)是微電路必須進(jìn)行的試驗(yàn)，試驗(yàn)時(shí)要求被試樣 品要施加適當(dāng)?shù)碾娫?使其處于正常的工作狀態(tài)。國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的穩(wěn)態(tài)壽命試驗(yàn)環(huán)境溫 度為125X：，時(shí)間為1000小時(shí)。加速試驗(yàn)可以提髙溫度，縮短時(shí)間。功率型微電路管殼的 溫度一般大于環(huán)境溫度，試驗(yàn)時(shí)保持環(huán)境溫度可以低于125T：。微電路穩(wěn)態(tài)壽命試驗(yàn)環(huán)境 溫度或管殼的溫度要以微電路結(jié)溫等于額定結(jié)溫為基點(diǎn)(一般在175X：?200X：之間）進(jìn) 行調(diào)整。間歇壽命試驗(yàn)要求以一定的頻率對(duì)被試微電路切斷或突然施加偏壓和信號(hào)，其 他試驗(yàn)條件與穩(wěn)態(tài)壽命試驗(yàn)相同。模擬壽命試驗(yàn)是一種模擬微電路應(yīng)用環(huán)境的組合試 驗(yàn)。它的組合應(yīng)力有機(jī)械、溫度、濕度和低氣壓四應(yīng)力試驗(yàn)及機(jī)械、溫度、濕度和電四應(yīng)力 試驗(yàn)等。